二手質(zhì)譜儀的一些較為重要的應(yīng)用

　　二手質(zhì)譜儀的質(zhì)譜分析法主要是通過對樣品的離子的質(zhì)荷比的分析而實現(xiàn)對樣品進行定性和定量的一種方法。因此，二手質(zhì)譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子，有質(zhì)量分析裝置把不同質(zhì)荷比的離子分開,經(jīng)檢測器檢測之后可以得到樣品的質(zhì)譜圖，由于有機樣品,無機樣品和同位素樣品等具有不同形態(tài)、性質(zhì)和不同的分析要求,所以，所用的電離裝置、質(zhì)量分析裝置和檢測裝置有所不同。但是，不管是哪種類型的質(zhì)譜儀，其基本組成是相同的。都包括離子源、質(zhì)量分析器、檢測器和真空系統(tǒng)。
二手質(zhì)譜儀主要的使用是別離同位素并測定它們的原子質(zhì)量及相對品貌。測定原子質(zhì)量的精度超越化學測量辦法，大約2／3以上的原子的準確質(zhì)量是用質(zhì)譜辦法測定的。因為質(zhì)量和能量的當量關(guān)系，由此可獲得有關(guān)核構(gòu)造與核連系能的常識。關(guān)于可經(jīng)過礦石中提取的放射性衰變產(chǎn)品元素的剖析測量，可確定礦石的地質(zhì)年月。質(zhì)譜辦法還可用于有機化學剖析，殊是微量雜質(zhì)剖析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子構(gòu)造供應(yīng)牢靠的根據(jù)。因為化合物有著像指紋一樣的共同質(zhì)譜，二手質(zhì)譜儀在工業(yè)出產(chǎn)中也獲得普遍使用。
對高材料進行雜質(zhì)剖析。可使用于半導體資料有色金屬、建材部分氣體同位本質(zhì)譜：對不變同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar測定，二手質(zhì)譜儀可使用于地質(zhì)石油、醫(yī)學、環(huán)保、農(nóng)業(yè)等部分。